基本信息
标准名称: | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 |
英文名称: | Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for mean coefficient of linear expansion |
中标分类: | |
ICS分类: | |
发布部门: | 国家标准局 |
发布日期: | 1985-11-27 |
实施日期: | 1986-12-01 |
首发日期: | 1985-11-27 |
作废日期: | 1900-01-01 |
主管部门: | 信息产业部(电子) |
提出单位: | 中华人民共和国电子工业部 |
归口单位: | 信息产业部(电子) |
起草单位: | 电子工业部12所 |
起草人: | 李蓝瑞 |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 1900-01-01 |
页数: | 2页 |
适用范围
本标准适用于测量室温至800℃各个阶段中电子器件结构陶瓷的平均线膨胀系数。
前言
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